健康咨询描述:
大约在2011下半年开始右侧头短暂性疼痛【每次12:30或1:00,2:00开始,次序30分钟左右】,头扬起时后脑发胀,胀痛。去年10月份在成都一医院做CT,及核磁共振。1.CT结果:所见描述;脑实质内未见明显异常密度灶,鞍上池右侧,相当于大脑后交通动脉起始部区域见一边缘稍高中央呈低密度影,双侧脑室形态大小正常,脑沟裂不宽,中线结构居中。右侧上颌窦密度增高影。
诊断结果:鞍上池右侧区域异常密度影,性质?2.核磁共振所见描述:双侧半脑中心区,侧脑室旁见多发斑片状异常信号,T1WI呈稍低信号,T2WI呈稍高信号,FLAI呈中心低信号。周边高信号,部分高信号,部分呈高信号,脑室系统未见异常,脑沟未见增宽。中线结构无移动位。双侧上颌窦粘膜增厚。
诊断:双侧半卵圆中心区,侧脑室旁多发软化灶。副鼻窦炎
曾经的治疗情况和效果: 未治疗
想得到怎样的帮助:请问:我这是啥病,该咋医治或需要做什么检查,
温馨提示:
膳食清淡、慎用补虚之品,宜食有助于疏风散邪的食物。
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