足弓测定方法有印迹法、足长轴与足弓角测量法、X线测量法、CT测量法、MRI测量法等。
1. 印迹法：是较为常用的一种方法。通过让足部蘸取墨水或其他颜料后，在白纸上留下脚印。然后根据脚印的形状和比例来初步判断足弓情况。测量脚印最窄处宽度与后跟至第二趾蹼间长度的比值，正常足弓比值在0.28-0.31之间，扁平足比值大于0.31，高弓足比值小于0.28 。
2. 足长轴与足弓角测量法：使用量角器等工具，测量足长轴与足弓所形成的角度。正常足弓角度一般在117°-127°之间，超出或小于此范围可提示足弓异常。
3. X线测量法：利用X线成像技术，能清晰显示足部骨骼结构。可以测量跟骨倾斜角、距骨第一跖骨角等多个参数，准确判断足弓形态和结构是否正常，为诊断提供详细数据。
4. CT测量法：CT扫描能提供更详细的足部横断面图像，对足弓的骨骼、关节等结构显示更清晰准确。有助于发现一些细微的结构异常，对于复杂足弓问题的诊断有重要价值。
5. MRI测量法：能多平面成像，对软组织分辨能力强。可清晰观察到足弓周围的肌肉、肌腱、韧带等软组织情况，对于判断软组织损伤或病变对足弓的影响有独特优势。
足弓测定对于了解足部健康状况很重要。日常要注意选择合适的鞋子，避免长时间站立或行走，减轻足部压力。若怀疑足弓存在问题，应及时就医，在专业医生指导下进行准确测定和评估，并接受相应治疗或康复建议。
